霍尔器件测试系统和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011109048.8

申请日：

2020-10-16

公开(公告)号：

CN112485735A

公开(公告)日：

2021-03-12

发明(设计)人：

乔景明史良俊石波陆小杰

申请人：

申请人地址：

214100 江苏省无锡市新区新辉环路8号

IPC主分类号：

G01R3312

IPC分类号：

G01D514

代理机构：

苏州简理知识产权代理有限公司 32371

代理人：

杨瑞玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/12 申请日:20201016
2021-03-12	公开	公开

共 50 条

[1]

霍尔器件测试系统和测试方法 [P].

乔景明 ;

史良俊 ;

朱信阳 ;

李静 .

中国专利 :CN111289928B ,2020-06-16

[2]

霍尔器件测试系统及测试方法 [P].

王生 ;

张松鹤 ;

李翔 .

中国专利 :CN115128424A ,2022-09-30

[3]

测试器件、测试方法和测试系统 [P].

王明 ;

袁笛斐 ;

朱晓芸 .

中国专利 :CN120708685A ,2025-09-26

[4]

微流量控泵阀器件测试系统和测试方法 [P].

马硕 .

中国专利 :CN113390626A ,2021-09-14

[5]

微流量控泵阀器件测试系统和测试方法 [P].

马硕 .

中国专利 :CN113390626B ,2024-05-24

[6]

霍尔效应测试系统 [P].

缪向水 ;

陈宇杰 ;

童浩 ;

王愿兵 ;

罗景庭 ;

乔伟 ;

刘长江 ;

蔡颖锐 ;

房山 ;

张雨 ;

潘洋 .

中国专利 :CN107367679A ,2017-11-21

[7]

微波器件测试系统和微波器件测试方法 [P].

王铁羊 ;

宋芳芳 ;

黄云 ;

路国光 ;

恩云飞 ;

王磊 ;

邵伟恒 .

中国专利 :CN110988512A ,2020-04-10

[8]

用于碲镉汞霍尔测试的器件制样方法及霍尔器件测试方法 [P].

王娇 ;

戴永喜 ;

李浩冉 ;

刘世光 ;

刘兴新 ;

王鑫 ;

吴卿 .

中国专利 :CN119497567A ,2025-02-21

[9]

测试方法和测试系统 [P].

郭智仁 .

中国专利 :CN110166145A ,2019-08-23

[10]

测试系统和测试方法 [P].

汪鹏 ;

杜锋 ;

夏瀚 ;

张宏琴 ;

李嘉轶 ;

邱庆兰 .

中国专利 :CN121050406A ,2025-12-02

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