测试器件、测试方法和测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410345447.6

申请日：

2024-03-25

公开(公告)号：

CN120708685A

公开(公告)日：

2025-09-26

发明(设计)人：

王明袁笛斐朱晓芸

申请人：

浙江驰拓科技有限公司

申请人地址：

311300 浙江省杭州市临安区青山湖街道崇文路1718号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

霍文娟

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-26	公开	公开
2025-10-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240325

共 50 条

[1]

霍尔器件测试系统和测试方法 [P].

乔景明 ;

史良俊 ;

石波 ;

陆小杰 .

中国专利 :CN112485735A ,2021-03-12

[2]

霍尔器件测试系统和测试方法 [P].

乔景明 ;

史良俊 ;

朱信阳 ;

李静 .

中国专利 :CN111289928B ,2020-06-16

[3]

测试台、测试系统、器件测试方法及测试机 [P].

刘通 ;

张富生 ;

韩业星 ;

杨钱卫 ;

徐冰 .

中国专利 :CN120352755A ,2025-07-22

[4]

微波器件测试系统和微波器件测试方法 [P].

王铁羊 ;

宋芳芳 ;

黄云 ;

路国光 ;

恩云飞 ;

王磊 ;

邵伟恒 .

中国专利 :CN110988512A ,2020-04-10

[5]

测试机、测试系统和测试方法 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN115421028A ,2022-12-02

[6]

测试系统和测试方法 [P].

魏世龙 ;

冯洲 ;

阮圣宽 .

中国专利 :CN119199440A ,2024-12-27

[7]

测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件 [P].

侯闯明 .

中国专利 :CN117368676A ,2024-01-09

[8]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[9]

半导体器件测试系统和方法 [P].

张仁训 .

中国专利 :CN102680876A ,2012-09-19

[10]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

李升根 .

中国专利 :CN113189470A ,2021-07-30

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