表面形状测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610126498.1

申请日：

2006-09-01

公开(公告)号：

CN1924521B

公开(公告)日：

2007-03-07

发明(设计)人：

松宫贞行伊贺崎史朗山县正意

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B2100

IPC分类号：

G01B2120 G01B2130

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

季向冈

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-03-07	公开	公开
2010-06-09	授权	授权

共 50 条

[1]

表面形状测量装置 [P].

田名部彻朗 ;

西尾昭 ;

马渡俊幸 .

日本专利 :CN118829846A ,2024-10-22

[2]

表面形状测量装置以及表面形状测量方法 [P].

佐藤邦弘 .

中国专利 :CN112739979B ,2021-04-30

[3]

表面形状测量装置及表面形状测量方法 [P].

江里口冬樹 ;

橘克彦 ;

河原守 .

中国专利 :CN1677052A ,2005-10-05

[4]

内表面形状测量装置 [P].

横田政义 .

中国专利 :CN103968777B ,2014-08-06

[5]

表面形状测量设备 [P].

闵钟求 ;

金承佑 ;

刘俊浩 ;

金煐植 ;

张玄俊 .

中国专利 :CN102466471A ,2012-05-23

[6]

表面形状测量系统 [P].

邱大明 .

中国专利 :CN2414414Y ,2001-01-10

[7]

表面形状测量装置及方法 [P].

追风宽岁 ;

浦岛毅吏 .

中国专利 :CN101889189A ,2010-11-17

[8]

元器件表面形状测量方法及元器件表面形状测量装置 [P].

刘帅杰 ;

施皆佩 ;

周炜 .

中国专利 :CN120008507A ,2025-05-16

[9]

表面形状测量方法以及其装置 [P].

松井繁 ;

小野田有吾 .

中国专利 :CN105209852B ,2015-12-30

[10]

表面形状测量设备和方法 [P].

A·M·斯科特 ;

A·C·卢恩 .

中国专利 :CN100468000C ,2007-04-04

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