表面形状测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380025632.0

申请日：

2023-02-22

公开(公告)号：

CN118829846A

公开(公告)日：

2024-10-22

发明(设计)人：

田名部彻朗西尾昭马渡俊幸

申请人：

株式会社三丰

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B11/25

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

曲天佐

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/25申请日:20230222
2024-10-22	公开	公开

共 50 条

[1]

表面形状测量装置 [P].

松宫贞行 ;

伊贺崎史朗 ;

山县正意 .

中国专利 :CN1924521B ,2007-03-07

[2]

表面形状测量装置以及表面形状测量方法 [P].

佐藤邦弘 .

中国专利 :CN112739979B ,2021-04-30

[3]

表面形状测量装置及表面形状测量方法 [P].

江里口冬樹 ;

橘克彦 ;

河原守 .

中国专利 :CN1677052A ,2005-10-05

[4]

表面形状的测量装置 [P].

孙宏 .

中国专利 :CN210981180U ,2020-07-10

[5]

内表面形状测量装置 [P].

横田政义 .

中国专利 :CN103968777B ,2014-08-06

[6]

表面形状测量设备 [P].

闵钟求 ;

金承佑 ;

刘俊浩 ;

金煐植 ;

张玄俊 .

中国专利 :CN102466471A ,2012-05-23

[7]

表面形状测量系统 [P].

邱大明 .

中国专利 :CN2414414Y ,2001-01-10

[8]

表面形状测量装置及方法 [P].

追风宽岁 ;

浦岛毅吏 .

中国专利 :CN101889189A ,2010-11-17

[9]

元器件表面形状测量方法及元器件表面形状测量装置 [P].

刘帅杰 ;

施皆佩 ;

周炜 .

中国专利 :CN120008507A ,2025-05-16

[10]

形状测量装置以及形状测量方法 [P].

高桥裕树 ;

关博之 ;

上原正广 .

中国专利 :CN106796104A ,2017-05-31

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