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半导体装置及其制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201480070814.0
申请日
:
2014-12-22
公开(公告)号
:
CN105849875B
公开(公告)日
:
2016-08-10
发明(设计)人
:
宫人秀和
申请人
:
申请人地址
:
日本神奈川
IPC主分类号
:
H01L2949
IPC分类号
:
H01L29786
H01L2712
H01L2134
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
:
秦晨
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-01-18
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101697430000 IPC(主分类):H01L 21/336 专利申请号:2014800708140 申请日:20141222
2020-03-06
授权
授权
2016-08-10
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体装置及其制造方法
[P].
肥塚纯一
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肥塚纯一
;
冈崎健一
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冈崎健一
;
保坂泰靖
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保坂泰靖
;
池山辉正
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池山辉正
;
山崎舜平
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山崎舜平
.
中国专利
:CN103187262B
,2013-07-03
[2]
半导体装置及其制造方法
[P].
肥塚纯一
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肥塚纯一
;
冈崎健一
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冈崎健一
;
保坂泰靖
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保坂泰靖
;
池山辉正
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池山辉正
;
山崎舜平
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山崎舜平
.
中国专利
:CN107452751B
,2017-12-08
[3]
半导体装置及其制造方法
[P].
肥塚纯一
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肥塚纯一
;
岛行德
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岛行德
;
德永肇
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德永肇
;
佐佐木俊成
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佐佐木俊成
;
村山佳右
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村山佳右
;
松林大介
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松林大介
.
中国专利
:CN103779423A
,2014-05-07
[4]
半导体装置及其制造方法
[P].
肥塚纯一
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肥塚纯一
;
岛行德
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岛行德
;
德永肇
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德永肇
;
佐佐木俊成
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佐佐木俊成
;
村山佳右
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村山佳右
;
松林大介
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松林大介
.
中国专利
:CN108649066A
,2018-10-12
[5]
半导体装置及其制造方法
[P].
山崎舜平
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山崎舜平
;
坂田淳一郎
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坂田淳一郎
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坂仓真之
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坂仓真之
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及川欣聪
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及川欣聪
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冈崎健一
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冈崎健一
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丸山穗高
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丸山穗高
;
津吹将志
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津吹将志
.
中国专利
:CN104934447B
,2015-09-23
[6]
半导体装置及其制造方法
[P].
矶部敦生
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矶部敦生
.
中国专利
:CN104247030A
,2014-12-24
[7]
半导体装置及其制造方法
[P].
山崎舜平
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山崎舜平
;
坂田淳一郎
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坂田淳一郎
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坂仓真之
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坂仓真之
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及川欣聪
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及川欣聪
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冈崎健一
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冈崎健一
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丸山穗高
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丸山穗高
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津吹将志
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津吹将志
.
中国专利
:CN101997036A
,2011-03-30
[8]
半导体装置的制造方法
[P].
山崎舜平
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山崎舜平
.
中国专利
:CN106653832A
,2017-05-10
[9]
半导体装置的制造方法
[P].
山崎舜平
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山崎舜平
.
中国专利
:CN102593185A
,2012-07-18
[10]
半导体装置、半导体装置的制造方法以及显示装置
[P].
中泽安孝
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中泽安孝
;
长隆之
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长隆之
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越冈俊介
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越冈俊介
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佐藤贵洋
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佐藤贵洋
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坂本直哉
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坂本直哉
;
山崎舜平
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山崎舜平
.
中国专利
:CN105793995A
,2016-07-20
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