用于分析测试元件上样品的方法以及分析系统

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专利类型
发明
申请号
CN200710148716.6
申请日
2007-09-06
公开(公告)号
CN101178399B
公开(公告)日
2008-05-14
发明(设计)人
B·斯滕坎普 G·施梅尔泽森-雷德克 W·施米德 D·梅内克 K·迪科普夫 G·阿尔布雷克特 A·门克 B·柯恩 W·施沃贝尔 J·舒拉特 S·卡尔弗拉姆
申请人
申请人地址
瑞士巴塞尔
IPC主分类号
G01N3350
IPC分类号
G01N3502 G01N2100
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
彭武;赵辛
法律状态
公开
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共 50 条
[1]
用于样品的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
L.菲施海特 ;
R.施泰因 ;
M.格贝尔 .
中国专利 :CN109804237B ,2019-05-24
[2]
用于样品的分析检验的测试元件分析系统 [P]. 
R.施泰因 ;
L.菲施海特 ;
M.默滕斯 .
中国专利 :CN107957416B ,2018-04-24
[3]
用于样品的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝斯特赖特 ;
S.萨克 ;
K.托梅 ;
A.韦勒 ;
R.克纳普斯坦 ;
W.海特 ;
S.利德 .
中国专利 :CN108780057A ,2018-11-09
[4]
对分析测试元件上的样本进行分析的分析系统 [P]. 
J·舒拉特 ;
K·-D·斯蒂格 .
中国专利 :CN101203755A ,2008-06-18
[5]
用于分析样品的系统 [P]. 
尤里·卡林依特成科 ;
沃尔弗拉姆·魏斯海特 .
德国专利 :CN117747400A ,2024-03-22
[6]
用于样本的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝施特赖特 ;
S.扎克 ;
K.托默 ;
M.斯万巴克豪斯 .
中国专利 :CN107167582B ,2017-09-15
[7]
测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝施特赖特 ;
S.萨克 ;
K.托梅 ;
W.海特 .
中国专利 :CN108713139B ,2018-10-26
[8]
测试元件分析系统 [P]. 
W·佩特里希 ;
W·施密德 ;
G·科歇尔谢德特 ;
J·-M·阿斯福尔 .
中国专利 :CN1413298A ,2003-04-23
[9]
用于分析体液的测试元件 [P]. 
H-P.哈尔 ;
J.赫内斯 .
中国专利 :CN102469969A ,2012-05-23
[10]
用于分析体液的测试元件 [P]. 
R·帕克尔 ;
B·巴比克 ;
J·霍弗勒 ;
M·弗兰克 ;
W·施米德 ;
H·-L·格里谢默 .
中国专利 :CN101147057A ,2008-03-19