用于样品的分析检查的测试元件分析系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780063503.5

申请日：

2017-10-12

公开(公告)号：

CN109804237B

公开(公告)日：

2019-05-24

发明(设计)人：

L.菲施海特 R.施泰因 M.格贝尔

申请人：

申请人地址：

瑞士巴塞尔

IPC主分类号：

G01N2177

IPC分类号：

G01N2178 G01N33487 G01N2184 G02B2124

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

邹松青;谭祐祥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-10	授权	授权
2019-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/77 申请日:20171012
2019-05-24	公开	公开

共 50 条

[1]

用于样品的分析检查的测试元件分析系统 [P].

K.黑贝斯特赖特 ;

S.萨克 ;

K.托梅 ;

A.韦勒 ;

R.克纳普斯坦 ;

W.海特 ;

S.利德 .

中国专利 :CN108780057A ,2018-11-09

[2]

用于样品的分析检验的测试元件分析系统 [P].

R.施泰因 ;

L.菲施海特 ;

M.默滕斯 .

中国专利 :CN107957416B ,2018-04-24

[3]

用于样本的分析检查的测试元件分析系统 [P].

K.黑贝施特赖特 ;

S.扎克 ;

K.托默 ;

M.斯万巴克豪斯 .

中国专利 :CN107167582B ,2017-09-15

[4]

用于分析测试元件上样品的方法以及分析系统 [P].

B·斯滕坎普 ;

G·施梅尔泽森-雷德克 ;

W·施米德 ;

D·梅内克 ;

K·迪科普夫 ;

G·阿尔布雷克特 ;

A·门克 ;

B·柯恩 ;

W·施沃贝尔 ;

J·舒拉特 ;

S·卡尔弗拉姆 .

中国专利 :CN101178399B ,2008-05-14

[5]

测试元件分析系统 [P].

W·佩特里希 ;

W·施密德 ;

G·科歇尔谢德特 ;

J·－M·阿斯福尔 .

中国专利 :CN1413298A ,2003-04-23

[6]

用于分析样品的系统 [P].

尤里·卡林依特成科 ;

沃尔弗拉姆·魏斯海特 .

德国专利 :CN117747400A ,2024-03-22

[7]

用于分析体液的测试元件 [P].

H-P.哈尔 ;

J.赫内斯 .

中国专利 :CN102469969A ,2012-05-23

[8]

用于分析体液的测试元件 [P].

R·帕克尔 ;

B·巴比克 ;

J·霍弗勒 ;

M·弗兰克 ;

W·施米德 ;

H·－L·格里谢默 .

中国专利 :CN101147057A ,2008-03-19

[9]

用于分析物质的载体元件 [P].

M·莱曼 ;

U·希本 .

中国专利 :CN1853103A ,2006-10-25

[10]

对分析测试元件上的样本进行分析的分析系统 [P].

J·舒拉特 ;

K·－D·斯蒂格 .

中国专利 :CN101203755A ,2008-06-18

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