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对分析测试元件上的样本进行分析的分析系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200680022146.X
申请日：
2006-06-13
公开(公告)号：
CN101203755A
公开(公告)日：
2008-06-18
发明(设计)人：
J·舒拉特 K·－D·斯蒂格
申请人：
申请人地址：
瑞士巴塞尔
IPC主分类号：
G01N3350
IPC分类号：
G01N2155 G02B104
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人：
曾祥夌
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2013-04-24 授权 授权
2008-08-13 实质审查的生效 实质审查的生效
2008-06-18 公开 公开
共 50 条
[1]
用于样本的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝施特赖特 ;
S.扎克 ;
K.托默 ;
M.斯万巴克豪斯 .
中国专利 :CN107167582B ,2017-09-15
[2]
用于分析测试元件上样品的方法以及分析系统 [P]. 
B·斯滕坎普 ;
G·施梅尔泽森-雷德克 ;
W·施米德 ;
D·梅内克 ;
K·迪科普夫 ;
G·阿尔布雷克特 ;
A·门克 ;
B·柯恩 ;
W·施沃贝尔 ;
J·舒拉特 ;
S·卡尔弗拉姆 .
中国专利 :CN101178399B ,2008-05-14
[3]
用于对测试元件上的试样进行分析的分析仪器 [P]. 
S·里贝尔 ;
H·韦德 ;
G·巴因齐克 ;
M·奥格斯坦 ;
A·格罗瑟 ;
O·库比 ;
D·梅尼克 ;
B·索斯 .
中国专利 :CN102788875B ,2012-11-21
[4]
用于对测试元件上的试样进行分析的分析仪器 [P]. 
S·里贝尔 ;
H·韦德 ;
G·巴因齐克 ;
M·奥格斯坦 ;
A·格罗瑟 ;
O·库比 ;
D·梅尼克 ;
B·索斯 .
中国专利 :CN101297198B ,2008-10-29
[5]
用于样品的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
L.菲施海特 ;
R.施泰因 ;
M.格贝尔 .
中国专利 :CN109804237B ,2019-05-24
[6]
用于样品的分析检验的测试元件分析系统 [P]. 
R.施泰因 ;
L.菲施海特 ;
M.默滕斯 .
中国专利 :CN107957416B ,2018-04-24
[7]
用于样品的分析检查的测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝斯特赖特 ;
S.萨克 ;
K.托梅 ;
A.韦勒 ;
R.克纳普斯坦 ;
W.海特 ;
S.利德 .
中国专利 :CN108780057A ,2018-11-09
[8]
测试元件分析系统 [P]. 
K.黑贝施特赖特 ;
S.萨克 ;
K.托梅 ;
W.海特 .
中国专利 :CN108713139B ,2018-10-26
[9]
测试元件分析系统 [P]. 
W·佩特里希 ;
W·施密德 ;
G·科歇尔谢德特 ;
J·－M·阿斯福尔 .
中国专利 :CN1413298A ,2003-04-23
[10]
集成的分析测试元件 [P]. 
S·N·罗 ;
C·C·拉尼 .
中国专利 :CN101374459B ,2009-02-25
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