过程校验仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200820166591.X

申请日：

2008-10-31

公开(公告)号：

CN201281609Y

公开(公告)日：

2009-07-29

发明(设计)人：

邵旭敏仲玉芳周平丁程吴明光

申请人：

申请人地址：

310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号

IPC主分类号：

G01D1800

IPC分类号：

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司

代理人：

张法高

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-07-29	授权	授权
2011-01-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101029296673 IPC(主分类):G01D 18/00 专利号:ZL200820166591X 申请日:20081031 授权公告日:20090729 终止日期:20091130

共 50 条

[1]

过程校验仪及其设计方法 [P].

邵旭敏 ;

仲玉芳 ;

周平 ;

丁程 ;

吴明光 .

中国专利 :CN101339815B ,2009-01-07

[2]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202473265U ,2012-10-03

[3]

过程校验仪 [P].

姜维利 .

中国专利 :CN301558244S ,2011-05-25

[4]

过程校验仪 [P].

曹云燕 ;

林春荣 .

中国专利 :CN306327644S ,2021-02-12

[5]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102568617B ,2012-07-11

[6]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN304476670S ,2018-01-26

[7]

朱武亭 ;

吴磊 ;

李易姝 .

中国专利 :CN223154301U ,2025-07-25

[8]

朱武亭 ;

吴磊 ;

李易姝 .

中国专利 :CN119043400A ,2024-11-29

[9]

单功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302517197S ,2013-07-31

[10]

多功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302454248S ,2013-06-05

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