过程校验仪

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201030213189.5

申请日：

2010-06-13

公开(公告)号：

CN301558244S

公开(公告)日：

2011-05-25

发明(设计)人：

姜维利

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地信息路甲28号科实大厦D座5-6层

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

鲁兵

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-07	专利权的终止	专利权有效期届满主分类号:10-05 申请日:20100613 授权公告日:20110525
2011-05-25	授权	授权

共 50 条

[1]

单功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302517197S ,2013-07-31

[2]

多功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302454248S ,2013-06-05

[3]

过程校验仪 [P].

曹云燕 ;

林春荣 .

中国专利 :CN306327644S ,2021-02-12

[4]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN304476670S ,2018-01-26

[5]

过程仪表校验仪 [P].

韩利民 .

中国专利 :CN303125894S ,2015-03-11

[6]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202473265U ,2012-10-03

[7]

过程校验仪 [P].

邵旭敏 ;

仲玉芳 ;

周平 ;

丁程 ;

吴明光 .

中国专利 :CN201281609Y ,2009-07-29

[8]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102568617B ,2012-07-11

[9]

智能过程信号校验仪 [P].

刘仁广 ;

陈云 ;

崔善超 .

中国专利 :CN302708956S ,2014-01-08

[10]

多功能过程校验仪 [P].

梁月明 .

中国专利 :CN214793250U ,2021-11-19

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