过程仪表校验仪

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201430303892.3

申请日：

2014-08-25

公开(公告)号：

CN303125894S

公开(公告)日：

2015-03-11

发明(设计)人：

韩利民

申请人：

申请人地址：

100096 北京市昌平区回龙观金燕龙大厦6层

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

北京金智普华知识产权代理有限公司 11401

代理人：

巴晓艳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-11	授权	授权

共 50 条

[1]

台式智能过程仪表校验仪 [P].

孙凤仙 ;

韩利民 ;

赵金桥 .

中国专利 :CN303737188S ,2016-07-06

[2]

手持式过程仪表校验仪 [P].

阳仲荣 .

中国专利 :CN2469420Y ,2002-01-02

[3]

过程校验仪 [P].

姜维利 .

中国专利 :CN301558244S ,2011-05-25

[4]

仪表校验仪 [P].

乔贵东 .

中国专利 :CN201955460U ,2011-08-31

[5]

过程校验仪 [P].

曹云燕 ;

林春荣 .

中国专利 :CN306327644S ,2021-02-12

[6]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN304476670S ,2018-01-26

[7]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202473265U ,2012-10-03

[8]

过程校验仪 [P].

邵旭敏 ;

仲玉芳 ;

周平 ;

丁程 ;

吴明光 .

中国专利 :CN201281609Y ,2009-07-29

[9]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102568617B ,2012-07-11

[10]

压力真空仪表校验仪 [P].

郭凯志 .

中国专利 :CN203203752U ,2013-09-18

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