过程校验仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210040438.3

申请日：

2012-02-21

公开(公告)号：

CN102568617B

公开(公告)日：

2012-07-11

发明(设计)人：

林善平连建亮

申请人：

申请人地址：

353200 福建省南平市顺昌县富州开发区虹润科技园

IPC主分类号：

G12B1300

IPC分类号：

G01D1800

代理机构：

福州市鼓楼区博深专利代理事务所(普通合伙) 35214

代理人：

林志峥

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-11	公开	公开
2012-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101324742467 IPC(主分类):G12B 13/00 专利申请号:2012100404383 申请日:20120221
2013-09-18	授权	授权
2015-12-09	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效登记号:2015350000085 登记生效日:20151112 出质人:福建顺昌虹润精密仪器有限公司质权人:中国农业银行股份有限公司顺昌县支行发明名称:过程校验仪申请日:20120221 授权公告日:20130918 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101724947049 IPC(主分类):G12B 13/00 专利号:ZL2012100404383

共 50 条

[1]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202473265U ,2012-10-03

[2]

多功能过程校验仪 [P].

梁月明 .

中国专利 :CN214793250U ,2021-11-19

[3]

过程校验仪 [P].

姜维利 .

中国专利 :CN301558244S ,2011-05-25

[4]

过程校验仪 [P].

曹云燕 ;

林春荣 .

中国专利 :CN306327644S ,2021-02-12

[5]

过程校验仪 [P].

邵旭敏 ;

仲玉芳 ;

周平 ;

丁程 ;

吴明光 .

中国专利 :CN201281609Y ,2009-07-29

[6]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN304476670S ,2018-01-26

[7]

过程校验仪的控制电路 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202583773U ,2012-12-05

[8]

过程校验仪的控制电路 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102681462A ,2012-09-19

[9]

单功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302517197S ,2013-07-31

[10]

多功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302454248S ,2013-06-05

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