过程校验仪的控制电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220218040.X

申请日：

2012-05-15

公开(公告)号：

CN202583773U

公开(公告)日：

2012-12-05

发明(设计)人：

林善平连建亮

申请人：

申请人地址：

353200 福建省南平市顺昌县富州开发区虹润科技园

IPC主分类号：

G05B19042

IPC分类号：

代理机构：

福州市鼓楼区博深专利代理事务所(普通合伙) 35214

代理人：

林志峥

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G05B 19/042 申请日:20120515 授权公告日:20121205
2012-12-05	授权	授权

共 50 条

[1]

过程校验仪的控制电路 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102681462A ,2012-09-19

[2]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN202473265U ,2012-10-03

[3]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

连建亮 .

中国专利 :CN102568617B ,2012-07-11

[4]

过程校验仪 [P].

邵旭敏 ;

仲玉芳 ;

周平 ;

丁程 ;

吴明光 .

中国专利 :CN201281609Y ,2009-07-29

[5]

过程校验仪 [P].

姜维利 .

中国专利 :CN301558244S ,2011-05-25

[6]

过程校验仪 [P].

曹云燕 ;

林春荣 .

中国专利 :CN306327644S ,2021-02-12

[7]

过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN304476670S ,2018-01-26

[8]

一种过程校验仪 [P].

林善平 ;

陈志扬 ;

杨飞 ;

张强 ;

梁建 ;

谢应钦 .

中国专利 :CN206930932U ,2018-01-26

[9]

单功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302517197S ,2013-07-31

[10]

多功能过程校验仪 [P].

张雪菁 .

中国专利 :CN302454248S ,2013-06-05

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