一种半导体晶粒加工用的分选装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201720460191.9
申请日
2017-04-28
公开(公告)号
CN206711875U
公开(公告)日
2017-12-05
发明(设计)人
付关军
申请人
申请人地址
253100 山东省德州市平原县经济开发区东区
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
代理机构
东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251
代理人
陈世洪
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体晶粒分选装置 [P]. 
陈创 ;
高萌 .
中国专利 :CN207951938U ,2018-10-12
[2]
一种电子晶粒生产加工用的分选装置 [P]. 
周园 .
中国专利 :CN206966101U ,2018-02-06
[3]
一种半导体晶粒分选装置 [P]. 
林宗民 ;
马志邦 .
中国专利 :CN203304199U ,2013-11-27
[4]
一种电子晶粒生产加工用的分选装置 [P]. 
周园 .
中国专利 :CN107159560A ,2017-09-15
[5]
一种半导体晶粒生产加工用的拉晶炉 [P]. 
夏倩 .
中国专利 :CN207052573U ,2018-02-27
[6]
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尤红权 ;
邓光伟 ;
朱志松 ;
陈磊 .
中国专利 :CN222943869U ,2025-06-06
[7]
一种半导体加工用检测装置 [P]. 
艾文喆 .
中国专利 :CN212568509U ,2021-02-19
[8]
一种半导体加工用清洁装置 [P]. 
张陈军 .
中国专利 :CN216262365U ,2022-04-12
[9]
一种半导体加工用磨边装置 [P]. 
何明生 ;
曾贵文 ;
彭伟升 .
中国专利 :CN221658835U ,2024-09-06
[10]
一种半导体加工用输送装置 [P]. 
张忠华 ;
刘强 ;
朱火泉 .
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