半导体芯片封装测试设备

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申请号
CN202211159871.9
申请日
2022-09-22
公开(公告)号
CN115662913A
公开(公告)日
2023-01-31
发明(设计)人
周朝霞 黄恺 郑智
申请人
申请人地址
325000 浙江省温州市龙湾区雄心村永宁西路2001号
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
H01L21687
代理机构
北京祺和祺知识产权代理有限公司 11501
代理人
崔巍
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体芯片测试设备 [P]. 
邢清瑞 .
中国专利 :CN221977039U ,2024-11-08
[2]
半导体芯片测试设备 [P]. 
邢清瑞 .
中国专利 :CN221977038U ,2024-11-08
[3]
一种半导体芯片封装测试设备 [P]. 
陈国斌 ;
陈宇明 .
中国专利 :CN118483549A ,2024-08-13
[4]
一种封装后半导体芯片快速测试设备 [P]. 
莫雪亮 .
中国专利 :CN222882804U ,2025-05-16
[5]
一种半导体芯片封装测试设备及方法 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN118577524A ,2024-09-03
[6]
半导体芯片封装测试夹具 [P]. 
宋继伟 ;
佟存柱 ;
蒋宁 ;
李金宝 ;
李浩 .
中国专利 :CN220854957U ,2024-04-26
[7]
一种半导体芯片封装测试装置 [P]. 
顾岚雁 ;
林河北 ;
杨东霓 ;
张传发 ;
宋清宋 .
中国专利 :CN220426027U ,2024-02-02
[8]
一种封装后半导体芯片快速测试设备 [P]. 
曹翔 ;
谢映中 .
中国专利 :CN221281158U ,2024-07-05
[9]
半导体芯片和半导体芯片封装 [P]. 
刘得平 ;
卢台佑 .
中国专利 :CN104881079A ,2015-09-02
[10]
半导体芯片封装 [P]. 
理查德·威尔森·阿诺德 ;
马文·韦恩·考恩斯 ;
查尔斯·安东尼·奥德加德 .
中国专利 :CN1890807A ,2007-01-03