半导体元件影像测试装置及其测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510534099.8

申请日：

2015-08-27

公开(公告)号：

CN106483126A

公开(公告)日：

2017-03-08

发明(设计)人：

吴国荣梁兴岳

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市公道五路二段81号

IPC主分类号：

G01N2184

IPC分类号：

H01L2166

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

宋焰琴

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-08	公开	公开
2017-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101710762130 IPC(主分类):G01N 21/84 专利申请号:2015105340998 申请日:20150827
2019-12-24	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体元件测试装置及其测试设备 [P].

陈峰杰 ;

陈盈宏 .

中国专利 :CN105842600A ,2016-08-10

[2]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN110044914A ,2019-07-23

[3]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN207779924U ,2018-08-28

[4]

半导体元件测试装置及其测试方法 [P].

苏哲毅 ;

蔡佳宏 ;

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN104237760A ,2014-12-24

[5]

半导体元件测试装置 [P].

许振荣 ;

曾昭晟 .

中国专利 :CN102903650B ,2013-01-30

[6]

半导体元件测试装置 [P].

伊藤明彦 ;

小林义仁 .

中国专利 :CN1083985C ,1998-11-11

[7]

半导体元件测试装置 [P].

邱显羣 ;

钱淼 ;

王韦勋 .

中国专利 :CN220751793U ,2024-04-09

[8]

半导体元件测试载盘及其测试装置与设备 [P].

丁伟修 .

中国专利 :CN110018405A ,2019-07-16

[9]

半导体元件的测试装置 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN101614784A ,2009-12-30

[10]

半导体测试装置与测试半导体元件的方法 [P].

邵志杰 ;

钟堂轩 ;

黄思嘉 ;

曾焕棋 ;

李建昌 ;

萧玉兰 .

中国专利 :CN102901847A ,2013-01-30

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