半导体测试装置与测试半导体元件的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210165717.2

申请日：

2012-05-25

公开(公告)号：

CN102901847A

公开(公告)日：

2013-01-30

发明(设计)人：

邵志杰钟堂轩黄思嘉曾焕棋李建昌萧玉兰

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R102

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司 72003

代理人：

姜燕;邢雪红

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-23	授权	授权
2013-01-30	公开	公开
2013-03-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101409721878 IPC(主分类):G01R 1/02 专利申请号:2012101657172 申请日:20120525

共 50 条

[1]

半导体元件测试装置 [P].

伊藤明彦 ;

小林义仁 .

中国专利 :CN1083985C ,1998-11-11

[2]

半导体元件测试装置 [P].

许振荣 ;

曾昭晟 .

中国专利 :CN102903650B ,2013-01-30

[3]

半导体元件测试装置 [P].

邱显羣 ;

钱淼 ;

王韦勋 .

中国专利 :CN220751793U ,2024-04-09

[4]

半导体测试电路、半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

吉田满 .

中国专利 :CN109073705A ,2018-12-21

[5]

半导体元件测试方法与半导体元件测试系统 [P].

吕康 ;

胡健 ;

熊阳 .

中国专利 :CN111381139A ,2020-07-07

[6]

半导体元件的测试装置 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN101614784A ,2009-12-30

[7]

半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

坂口英明 ;

永广雅之 ;

森雅美 .

中国专利 :CN1475811A ,2004-02-18

[8]

半导体装置、半导体测试装置和半导体装置的测试方法 [P].

松川和生 ;

藤田光俊 .

中国专利 :CN101405610A ,2009-04-08

[9]

半导体元件测试装置及其测试方法 [P].

苏哲毅 ;

蔡佳宏 ;

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN104237760A ,2014-12-24

[10]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN110044914A ,2019-07-23

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