半导体元件影像测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820069202.5

申请日：

2018-01-16

公开(公告)号：

CN207779924U

公开(公告)日：

2018-08-28

发明(设计)人：

蔡秉谚宋柏宽

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市公道五路二段81号

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

任岩

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-28	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN110044914A ,2019-07-23

[2]

半导体元件测试装置 [P].

许振荣 ;

曾昭晟 .

中国专利 :CN102903650B ,2013-01-30

[3]

半导体元件测试装置 [P].

邱显羣 ;

钱淼 ;

王韦勋 .

中国专利 :CN220751793U ,2024-04-09

[4]

半导体元件影像测试装置及其测试设备 [P].

吴国荣 ;

梁兴岳 .

中国专利 :CN106483126A ,2017-03-08

[5]

半导体元件的测试装置 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN101614784A ,2009-12-30

[6]

半导体元件测试装置 [P].

伊藤明彦 ;

小林义仁 .

中国专利 :CN1083985C ,1998-11-11

[7]

半导体元件长时间测试装置 [P].

单忠频 ;

康茂 ;

周圣军 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

胡红坡 ;

陈树钊 .

中国专利 :CN215236022U ,2021-12-21

[8]

半导体封装元件测试装置 [P].

黄清荣 ;

周秀竹 ;

廖沐盛 ;

余正吉 ;

洪国雄 .

中国专利 :CN2588529Y ,2003-11-26

[9]

半导体测试装置与测试半导体元件的方法 [P].

邵志杰 ;

钟堂轩 ;

黄思嘉 ;

曾焕棋 ;

李建昌 ;

萧玉兰 .

中国专利 :CN102901847A ,2013-01-30

[10]

半导体元件测试装置及其测试方法 [P].

苏哲毅 ;

蔡佳宏 ;

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN104237760A ,2014-12-24

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