一种单片磁导计、单片试样测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711310589.5

申请日：

2017-12-11

公开(公告)号：

CN108226826B

公开(公告)日：

2018-06-29

发明(设计)人：

吴雪杨富尧刘洋高洁程灵何承绪马光韩钰陈新

申请人：

申请人地址：

102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号

IPC主分类号：

G01R3312

IPC分类号：

G01R3302

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

李博洋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-29	公开	公开
2019-02-26	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 33/12 变更事项:申请人变更前:全球能源互联网研究院有限公司变更后:全球能源互联网研究院有限公司变更事项:地址变更前:102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号变更后:102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号变更事项:申请人变更前:国家电网公司;国网浙江省电力公司变更后:国家电网有限公司;国网浙江省电力公司
2020-04-21	授权	授权
2018-07-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/12 申请日:20171211

共 50 条

[1]

一种转子单片偏摆测量方法及测量装置 [P].

马若孝 .

中国专利 :CN102607360B ,2012-07-25

[2]

一种单片导向叶片排气面积的测量装置及测量方法 [P].

邱枫 ;

杨莉玫 ;

王均 ;

王亚岚 ;

肖国郁 .

中国专利 :CN110702058B ,2025-05-23

[3]

一种单片导向叶片排气面积的测量装置及测量方法 [P].

邱枫 ;

杨莉玫 ;

王均 ;

王亚岚 ;

肖国郁 .

中国专利 :CN110702058A ,2020-01-17

[4]

试样结构测量装置及试样结构测量方法 [P].

大平真由美 .

日本专利 :CN114270177B ,2024-03-15

[5]

试样结构测量装置及试样结构测量方法 [P].

大平真由美 .

中国专利 :CN114270177A ,2022-04-01

[6]

一种拉伸试样断后测量装置及测量方法 [P].

李刚 ;

石建卫 ;

刘永龙 .

中国专利 :CN115356189A ,2022-11-18

[7]

细胞试样测量方法和细胞试样测量装置 [P].

高木登纪雄 ;

山内丰彦 ;

道垣内龙男 ;

河田阳一 ;

清水良幸 ;

建部严 .

日本专利 :CN119198628A ,2024-12-27

[8]

一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法 [P].

王汉奎 ;

张雪涛 ;

徐彤 .

中国专利 :CN110487192A ,2019-11-22

[9]

一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法 [P].

王汉奎 ;

张雪涛 ;

徐彤 .

中国专利 :CN110487192B ,2024-09-13

[10]

一种岩石试样体积变形测量装置及测量方法 [P].

张希巍 ;

冯夏庭 ;

徐荃 ;

杨成祥 ;

孔瑞 .

中国专利 :CN103822573B ,2014-05-28

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