试样结构测量装置及试样结构测量方法

被引：0

申请号：

CN201980099588.1

申请日：

2019-12-12

公开(公告)号：

CN114270177A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

大平真由美

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2141

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

朱丽娟;蔡丽娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20191212
2022-04-01	公开	公开

共 50 条

[1]

试样结构测量装置及试样结构测量方法 [P].

大平真由美 .

日本专利 :CN114270177B ,2024-03-15

[2]

细胞试样测量方法和细胞试样测量装置 [P].

高木登纪雄 ;

山内丰彦 ;

道垣内龙男 ;

河田阳一 ;

清水良幸 ;

建部严 .

日本专利 :CN119198628A ,2024-12-27

[3]

一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法 [P].

王汉奎 ;

张雪涛 ;

徐彤 .

中国专利 :CN110487192A ,2019-11-22

[4]

一种试样厚度测量装置、测量方法及试样厚度计算方法 [P].

王汉奎 ;

张雪涛 ;

徐彤 .

中国专利 :CN110487192B ,2024-09-13

[5]

试样液面位置测量装置和试样液面位置测量方法 [P].

中川树生 ;

杉山清隆 ;

末成元 ;

铃木岩 .

中国专利 :CN109073448A ,2018-12-21

[6]

断裂试样裂纹倾角测量装置及测量方法 [P].

华文 ;

董世明 ;

淦志强 .

中国专利 :CN112393971A ,2021-02-23

[7]

试样测量装置以及试样测量系统 [P].

汤浅一博 .

中国专利 :CN102759627B ,2012-10-31

[8]

一种拉伸试样断后测量装置及测量方法 [P].

李刚 ;

石建卫 ;

刘永龙 .

中国专利 :CN115356189A ,2022-11-18

[9]

一种单片磁导计、单片试样测量装置及测量方法 [P].

吴雪 ;

杨富尧 ;

刘洋 ;

高洁 ;

程灵 ;

何承绪 ;

马光 ;

韩钰 ;

陈新 .

中国专利 :CN108226826B ,2018-06-29

[10]

一种岩石试样体积变形测量装置及测量方法 [P].

张希巍 ;

冯夏庭 ;

徐荃 ;

杨成祥 ;

孔瑞 .

中国专利 :CN103822573B ,2014-05-28

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