一种量子芯片测试装置

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申请号
CN202123266685.9
申请日
2021-12-23
公开(公告)号
CN217491763U
公开(公告)日
2022-09-27
发明(设计)人
杨长滨 王杨淦
申请人
申请人地址
518035 广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治大道与工业东路交汇处展滔科技大厦A座418
IPC主分类号
B07C5344
IPC分类号
B07C538
代理机构
东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777
代理人
万伟清
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种量子芯片测试装置 [P]. 
赵勇杰 .
中国专利 :CN212693960U ,2021-03-12
[2]
一种量子芯片测试装置 [P]. 
李玲 ;
朱美珍 .
中国专利 :CN209927979U ,2020-01-10
[3]
一种LPDDR芯片测试装置 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223401005U ,2025-09-30
[4]
一种量子芯片测试装置及测试方法 [P]. 
周永杰 .
中国专利 :CN114791555A ,2022-07-26
[5]
一种量子芯片测试盒及测试装置 [P]. 
金贤胜 ;
刘尧 ;
张福 .
中国专利 :CN217521319U ,2022-09-30
[6]
一种量子芯片端口阻抗测试装置 [P]. 
贾志龙 ;
陈华鹏 .
中国专利 :CN208350898U ,2019-01-08
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
陈兵录 .
中国专利 :CN209486249U ,2019-10-11