测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
申请号
CN202110892036.5
申请日
2021-08-04
公开(公告)号
CN115705258A
公开(公告)日
2023-02-17
发明(设计)人
唐弢 赵妍
申请人
申请人地址
100041 北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层B-0035房间
IPC主分类号
G06F1107
IPC分类号
代理机构
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447
代理人
李柯莹
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄慧良 .
中国专利 :CN118409944A ,2024-07-30
[2]
测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张宁 ;
邹雨竹 .
中国专利 :CN114116495A ,2022-03-01
[3]
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨水石 ;
胡智 .
中国专利 :CN111338971A ,2020-06-26
[4]
性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨欢 ;
钱嘉林 .
中国专利 :CN117785592A ,2024-03-29
[5]
游戏测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
陈晓梨 .
中国专利 :CN115645927A ,2023-01-31
[6]
UI测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
邢晓菲 ;
郑雷 .
中国专利 :CN113326183A ,2021-08-31
[7]
UI测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
邢晓菲 ;
郑雷 .
中国专利 :CN113326183B ,2024-12-24
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高腾远 ;
薛品龙 ;
王跃辉 ;
李洋 ;
赵印凯 ;
周毅 .
中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28
[9]
测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
杨锋 .
中国专利 :CN113553257A ,2021-10-26
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘伟 .
中国专利 :CN118093392A ,2024-05-28