测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311264231.9

申请日：

2023-09-27

公开(公告)号：

CN119718790A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

高腾远薛品龙王跃辉李洋赵印凯周毅

申请人：

北京小米移动软件有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京名华博信知识产权代理有限公司 11453

代理人：

姜超

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20230927
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

:CN113297062B ,2025-03-07

[2]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24

[3]

测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

黄悦 ;

钱正宇 ;

胡鸣人 ;

袁正雄 ;

褚振方 ;

罗阳 ;

王国彬 ;

钱洋 ;

王宽 .

中国专利 :CN115604144A ,2023-01-13

[4]

测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

黄悦 ;

钱正宇 ;

胡鸣人 ;

袁正雄 ;

褚振方 ;

罗阳 ;

王国彬 ;

钱洋 ;

王宽 .

中国专利 :CN115604144B ,2024-07-12

[5]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张利 ;

李丹丹 ;

万诚 .

中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02

[6]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘伟 .

中国专利 :CN118093392A ,2024-05-28

[7]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

郭政伟 .

中国专利 :CN115391113A ,2022-11-25

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张珂汇 .

中国专利 :CN120723640A ,2025-09-30

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邵洁 .

中国专利 :CN120412547A ,2025-08-01

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

卞国强 .

中国专利 :CN119696738A ,2025-03-25

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