测试方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

申请号：

CN202211021863.8

申请日：

2022-08-24

公开(公告)号：

CN115391113A

公开(公告)日：

2022-11-25

发明(设计)人：

郭政伟

申请人：

申请人地址：

200001 上海市黄浦区北京东路666号H区（东座）6楼H115室

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

广州德科知识产权代理有限公司 44381

代理人：

邓灵;万振雄

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-25	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

:CN113297062B ,2025-03-07

[2]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24

[3]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063A ,2024-07-16

[4]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063B ,2024-11-22

[5]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高腾远 ;

薛品龙 ;

王跃辉 ;

李洋 ;

赵印凯 ;

周毅 .

中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28

[6]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

[7]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘伟 .

中国专利 :CN118093392A ,2024-05-28

[8]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

唐弢 ;

赵妍 .

中国专利 :CN115705258A ,2023-02-17

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02

← 1 2 3 4 5 →