测试方法、电子设备、存储介质及芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410757669.9

申请日：

2024-06-13

公开(公告)号：

CN118354063B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

丁高珂

申请人：

荣耀终端有限公司

申请人地址：

518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401

IPC主分类号：

H04N17/00

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

魏江黎

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04N 17/00申请日:20240613
2024-11-22	授权	授权
2024-07-16	公开	公开
2025-02-25	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):H04N 17/00变更事项:专利权人变更前:荣耀终端有限公司变更后:荣耀终端股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401变更后:518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401

共 50 条

[1]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063A ,2024-07-16

[2]

测试方法、芯片、电子设备及存储介质 [P].

丁文轩 ;

蔡雅平 .

中国专利 :CN115640182A ,2023-01-24

[3]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

郭政伟 .

中国专利 :CN115391113A ,2022-11-25

[4]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

:CN113297062B ,2025-03-07

[5]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24

[6]

芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李振贤 ;

穆剑昇 ;

张一帆 .

中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04

[7]

芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李振贤 ;

穆剑昇 ;

张一帆 .

中国专利 :CN119758044B ,2025-07-04

[8]

测试方法及装置、芯片、电子设备、存储介质 [P].

靳全峰 ;

潘伟 ;

黄亚林 .

中国专利 :CN117749289A ,2024-03-22

[9]

芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吉润宰 ;

张琦 ;

郝学塨 .

中国专利 :CN114121139B ,2022-03-01

[10]

芯片测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

朴英斗 ;

宋秀良 ;

刘金海 .

中国专利 :CN114121140A ,2022-03-01

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