芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510260519.1

申请日：

2025-03-06

公开(公告)号：

CN119758044B

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

李振贤穆剑昇张一帆

申请人：

深圳通锐微电子技术有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦二层201

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

刘自丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250306
2025-04-04	公开	公开
2025-07-04	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李振贤 ;

穆剑昇 ;

张一帆 .

中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04

[2]

芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨笑 .

中国专利 :CN117590193A ,2024-02-23

[3]

芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吉润宰 ;

张琦 ;

郝学塨 .

中国专利 :CN114121139B ,2022-03-01

[4]

芯片验证测试方法、芯片测试装置、电子设备及存储介质 [P].

黄周晨 ;

孙海晶 ;

陈波 .

中国专利 :CN119621446A ,2025-03-14

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

闫世显 ;

陈明宇 ;

李作骏 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117688878A ,2024-03-12

[6]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李作骏 ;

闫世显 ;

陈明宇 ;

卢天越 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117709253A ,2024-03-15

[7]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李作骏 ;

闫世显 ;

陈明宇 ;

卢天越 ;

唐丹 ;

包云岗 .

中国专利 :CN117709253B ,2024-04-26

[8]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

陈鑫龙 .

中国专利 :CN119575148A ,2025-03-07

[9]

芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

王宇 .

中国专利 :CN117007933B ,2025-05-16

[10]

芯片测试的方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张满新 ;

张健昭 .

中国专利 :CN117632735A ,2024-03-01

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