芯片验证测试方法、芯片测试装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411438964.4

申请日：

2024-10-15

公开(公告)号：

CN119621446A

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

黄周晨孙海晶陈波

申请人：

航天科工防御技术研究试验中心

申请人地址：

100085 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/263 G06F21/55

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

孙晓凤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20241015
2025-03-14	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[2]

测试方法、测试装置、芯片和电子设备 [P].

严铠锋 ;

贾六伟 .

中国专利 :CN120629884A ,2025-09-12

[3]

测试方法、测试装置、电子设备、可读存储介质和芯片 [P].

王千一 ;

苏科伟 ;

韩玮 ;

宋胜男 ;

陈卓 ;

胥凤驰 ;

马向峰 ;

李哲 ;

刘如磊 ;

董钉 ;

曾江峰 .

中国专利 :CN120046235A ,2025-05-27

[4]

车辆芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨柄楠 ;

王强 ;

赵目龙 ;

王泽尉 ;

田辉 ;

王宗罡 ;

宋金海 ;

李泽 ;

王天宇 ;

王亚明 .

中国专利 :CN119536207A ,2025-02-28

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李治贤 .

中国专利 :CN120315952A ,2025-07-15

[6]

芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质 [P].

孙晨岳 ;

王中波 ;

高国重 .

中国专利 :CN118567919A ,2024-08-30

[7]

芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李振贤 ;

穆剑昇 ;

张一帆 .

中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04

[8]

芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李振贤 ;

穆剑昇 ;

张一帆 .

中国专利 :CN119758044B ,2025-07-04

[9]

芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吉润宰 ;

张琦 ;

郝学塨 .

中国专利 :CN114121139B ,2022-03-01

[10]

芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨笑 .

中国专利 :CN117590193A ,2024-02-23

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