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芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311450635.7
申请日：
2023-11-02
公开(公告)号：
CN117590193A
公开(公告)日：
2024-02-23
发明(设计)人：
杨笑
申请人：
北京芯驰半导体科技有限公司
申请人地址：
102600 北京市大兴区经济技术开发区荣华南路2号院2号楼5层507-6
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734
代理人：
周伟
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-02-23 | 公开 | 公开 |
| 2024-03-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231102 |