测试方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010484730.9

申请日：

2020-06-01

公开(公告)号：

CN113297062A

公开(公告)日：

2021-08-24

发明(设计)人：

赵俊阳王桐

申请人：

申请人地址：

英属开曼群岛大开曼资本大厦一座四层847号邮箱

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京博思佳知识产权代理有限公司 11415

代理人：

周嗣勇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200601
2021-08-24	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

:CN113297062B ,2025-03-07

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高腾远 ;

薛品龙 ;

王跃辉 ;

李洋 ;

赵印凯 ;

周毅 .

中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28

[3]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

郭政伟 .

中国专利 :CN115391113A ,2022-11-25

[4]

测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

黄悦 ;

钱正宇 ;

胡鸣人 ;

袁正雄 ;

褚振方 ;

罗阳 ;

王国彬 ;

钱洋 ;

王宽 .

中国专利 :CN115604144A ,2023-01-13

[5]

测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

黄悦 ;

钱正宇 ;

胡鸣人 ;

袁正雄 ;

褚振方 ;

罗阳 ;

王国彬 ;

钱洋 ;

王宽 .

中国专利 :CN115604144B ,2024-07-12

[6]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张利 ;

李丹丹 ;

万诚 .

中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02

[7]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063A ,2024-07-16

[8]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063B ,2024-11-22

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘伟 .

中国专利 :CN118093392A ,2024-05-28

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