全光纤光路电泳光散射Zeta电位测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810863506.3

申请日：

2018-08-01

公开(公告)号：

CN109030320A

公开(公告)日：

2018-12-18

发明(设计)人：

刘伟秦福元王雅静申晋陈文钢马立修

申请人：

申请人地址：

255086 山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室

IPC主分类号：

G01N1510

IPC分类号：

G01N2147 G01N27447

代理机构：

淄博佳和专利代理事务所 37223

代理人：

孙爱华

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 15/10 申请公布日:20181218
2018-12-18	公开	公开
2019-01-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/10 申请日:20180801

共 50 条

[1]

一种用于电泳光散射法测量Zeta电位的平板电极机构 [P].

秦福元 ;

秦和义 ;

刘伟 ;

申晋 .

中国专利 :CN214749953U ,2021-11-16

[2]

一种用于电泳光散射法测量Zeta电位的毛细管样品池 [P].

秦福元 ;

秦和义 ;

刘伟 ;

申晋 .

中国专利 :CN215574816U ,2022-01-18

[3]

光测量装置及光测量方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN120693513A ,2025-09-23

[4]

光测量装置及光测量方法 [P].

江浦茂 ;

铃木健吾 ;

池村贤一郎 ;

井口和也 .

中国专利 :CN106461463B ,2017-02-22

[5]

散射光测量方法 [P].

K.施滕格尔 ;

G.哈加 ;

M.诺伊恩多夫 ;

R.西格 .

中国专利 :CN103026201B ,2013-04-03

[6]

一种电泳光散射检测高浓度样品Zeta电位的电极装置 [P].

张蕙任 ;

刘岳强 ;

陈权威 ;

李晓光 ;

杨洪宇 ;

郑浩 ;

宁辉 ;

李晓旭 .

中国专利 :CN223377253U ,2025-09-23

[7]

流动电位系数与zeta电位的测量装置及其测量方法 [P].

李忠意 ;

程永毅 .

中国专利 :CN112730570A ,2021-04-30

[8]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[9]

光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量方法及装置 [P].

范继来 ;

韩鹏 ;

李晓光 ;

邱健 ;

王耀祖 ;

彭力 ;

骆开庆 .

中国专利 :CN105203831B ,2015-12-30

[10]

散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843B ,2024-11-15

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