样本分析系统及样本分析系统控制方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201780091677.2
申请日
2017-10-19
公开(公告)号
CN110892269A
公开(公告)日
2020-03-17
发明(设计)人
张军伟 李学荣 颜昌银 赵许克
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦
IPC主分类号
G01N3500
IPC分类号
B65G3700
代理机构
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
刘葛
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
张军伟 ;
郁琦 .
中国专利 :CN113376388A ,2021-09-10
[2]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
张军伟 ;
郁琦 .
中国专利 :CN113376388B ,2025-05-30
[3]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245B ,2024-04-19
[4]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
张军伟 ;
李学荣 .
中国专利 :CN112285357A ,2021-01-29
[5]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246B ,2025-06-13
[6]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
许自一 ;
肖建萍 ;
徐保重 ;
赵涛 .
中国专利 :CN114627986A ,2022-06-14
[7]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246A ,2021-02-02
[8]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245A ,2021-02-02
[9]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
张军伟 ;
李学荣 .
中国专利 :CN112285357B ,2024-03-08
[10]
样本分析系统、样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
余渊 .
中国专利 :CN114611086A ,2022-06-10