基于神经网络参数建模的集成电路互连可靠性分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610919312.1
申请日
2016-10-21
公开(公告)号
CN106547962A
公开(公告)日
2017-03-29
发明(设计)人
马建国 谷俊杰 傅海鹏 赵升
申请人
申请人地址
300072 天津市南开区卫津路92号
IPC主分类号
G06F1750
IPC分类号
代理机构
天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201
代理人
李丽萍
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路稳定可靠性分析测试结构 [P]. 
刘洋 ;
黄厚营 ;
李慕兰 .
中国专利 :CN217181128U ,2022-08-12
[2]
集成电路的可靠性分析测试结构及其测试方法 [P]. 
钟怡 .
中国专利 :CN104465616A ,2015-03-25
[3]
集成电路的可靠性分析测试结构及其测试方法 [P]. 
冯军宏 ;
甘正浩 .
中国专利 :CN103915415A ,2014-07-09
[4]
基于物理信息神经网络的复杂装备全局可靠性分析方法 [P]. 
胡伟飞 ;
廖家乐 ;
王其君 ;
鄢继铨 ;
方健豪 ;
董娜 ;
王立闻 ;
尹景勋 ;
谭建荣 .
中国专利 :CN119416614A ,2025-02-11
[5]
一种基于双层BP神经网络的时变可靠性分析方法 [P]. 
李贵杰 ;
何宜勉 ;
陈昊 ;
朱苗苗 .
中国专利 :CN120930689A ,2025-11-11
[6]
神经网络电路以及神经网络集成电路 [P]. 
本村真人 .
中国专利 :CN109478253A ,2019-03-15
[7]
一种集成电路可靠性分析方法和装置 [P]. 
曾璇 ;
尚笠 ;
周海 ;
杨帆 ;
陆瀛海 ;
朱恒亮 .
中国专利 :CN101964003A ,2011-02-02
[8]
集成电路中可靠性分析的测试结构及其测试方法 [P]. 
王笃林 ;
胡永锋 ;
吕勇 ;
赵祥富 .
中国专利 :CN104282661B ,2015-01-14
[9]
集成电路中可靠性分析的测试结构及其测试方法 [P]. 
冯军宏 ;
甘正浩 .
中国专利 :CN103824839A ,2014-05-28
[10]
基于神经网络的集成电路无源器件参数化建模方法及系统 [P]. 
钟潘 ;
刘民庆 ;
万波 ;
王庆飞 .
中国专利 :CN120805678A ,2025-10-17