内存测试方法及装置、可读存储介质、电子设备

被引:0
申请号
CN202110033604.6
申请日
2021-01-12
公开(公告)号
CN114765051A
公开(公告)日
2022-07-19
发明(设计)人
瞿振林 张文喜
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
G11C2918
IPC分类号
G11C2956
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
王辉;阚梓瑄
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
内存测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙华敏 .
中国专利 :CN119806928A ,2025-04-11
[2]
内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18
[3]
内存测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
廖亨权 .
中国专利 :CN117891739A ,2024-04-16
[4]
内存隔离方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
代朝丙 ;
刁家庆 ;
李诗逸 ;
张清波 ;
赵泉彬 ;
丁辉 .
中国专利 :CN114780276A ,2022-07-22
[5]
内存判定方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
陈庆峰 .
中国专利 :CN117334242A ,2024-01-02
[6]
内存测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN119229947A ,2024-12-31
[7]
内存测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘清林 ;
刘涛 .
中国专利 :CN120823873A ,2025-10-21
[8]
内存测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘清林 ;
刘涛 .
中国专利 :CN120823873B ,2025-11-14
[9]
内存调度方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王家乐 .
中国专利 :CN119759571A ,2025-04-04
[10]
内存检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张宇昂 .
中国专利 :CN118363838A ,2024-07-19