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内存测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411845321.1
申请日：
2024-12-13
公开(公告)号：
CN119806928A
公开(公告)日：
2025-04-11
发明(设计)人：
孙华敏
申请人：
中移(苏州)软件技术有限公司 中国移动通信集团有限公司
申请人地址：
215163 江苏省苏州市高新区昆仑山路58号1幢中移软件园
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
代理机构：
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人：
姚璐;吴素花
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-11 公开 公开
2025-04-29 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20241213
共 50 条
[1]
内存测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
瞿振林 ;
张文喜 .
中国专利 :CN114765051A ,2022-07-19
[2]
内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18
[3]
内存判定方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
陈庆峰 .
中国专利 :CN117334242A ,2024-01-02
[4]
内存测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN119229947A ,2024-12-31
[5]
内存测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘清林 ;
刘涛 .
中国专利 :CN120823873A ,2025-10-21
[6]
内存测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘清林 ;
刘涛 .
中国专利 :CN120823873B ,2025-11-14
[7]
内存测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
廖亨权 .
中国专利 :CN117891739A ,2024-04-16
[8]
内存测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN118916220A ,2024-11-08
[9]
内存隔离方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
代朝丙 ;
刁家庆 ;
李诗逸 ;
张清波 ;
赵泉彬 ;
丁辉 .
中国专利 :CN114780276A ,2022-07-22
[10]
测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
石伍昱 .
中国专利 :CN111240992A ,2020-06-05
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