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内存测试方法、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511315961.6
申请日：
2025-09-15
公开(公告)号：
CN120823873B
公开(公告)日：
2025-11-14
发明(设计)人：
孙明刚 刘清林 刘涛
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
黄琼
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-07 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250915
2025-10-21 公开 公开
2025-11-14 授权 授权
共 50 条
[1]
内存测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘清林 ;
刘涛 .
中国专利 :CN120823873A ,2025-10-21
[2]
内存测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN118916220A ,2024-11-08
[3]
内存测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙华敏 .
中国专利 :CN119806928A ,2025-04-11
[4]
内存测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN119229947A ,2024-12-31
[5]
内存测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
瞿振林 ;
张文喜 .
中国专利 :CN114765051A ,2022-07-19
[6]
内存测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
廖亨权 .
中国专利 :CN117891739A ,2024-04-16
[7]
多线程内存测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
陈颖霖 .
中国专利 :CN118733365A ,2024-10-01
[8]
内存访问方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘重力 ;
万娟 ;
赵赓 ;
徐秀波 .
中国专利 :CN120780243A ,2025-10-14
[9]
内存访问方法、电子设备及存储介质 [P]. 
张英骏 ;
祝世豪 ;
蔡彦 ;
李坤 ;
吴炜 ;
朱晓冉 .
中国专利 :CN117370229A ,2024-01-09
[10]
内存测试方法、设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
何昌明 .
中国专利 :CN118427024A ,2024-08-02
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