抗辐照集成电路单粒子效应截面预估方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710522182.2

申请日：

2017-06-30

公开(公告)号：

CN107345998B

公开(公告)日：

2017-11-14

发明(设计)人：

刘红侠杜守刚王树龙王倩琼

申请人：

申请人地址：

710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

陕西电子工业专利中心 61205

代理人：

王品华;朱红星

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-11-14	公开	公开
2019-08-13	授权	授权
2017-12-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20170630

共 50 条

[1]

抗辐照复杂集成电路单粒子错误率截面预估方法 [P].

刘红侠 ;

杜守刚 ;

王树龙 ;

王倩琼 .

中国专利 :CN107194090A ,2017-09-22

[2]

一种集成电路单粒子效应定位系统 [P].

赵承心 ;

杨海波 ;

周威 ;

张月昭 ;

李先勤 ;

牛晓阳 .

中国专利 :CN114460440A ,2022-05-10

[3]

一种CMOS集成电路抗单粒子效应加固电路 [P].

武唯康 ;

廖春连 ;

常迎辉 ;

李斌 ;

刘长龙 ;

田素雷 .

中国专利 :CN110830021B ,2024-11-19

[4]

一种CMOS集成电路抗单粒子效应加固电路 [P].

武唯康 ;

廖春连 ;

常迎辉 ;

李斌 ;

刘长龙 ;

田素雷 .

中国专利 :CN210578492U ,2020-05-19

[5]

一种CMOS集成电路抗单粒子效应加固电路 [P].

武唯康 ;

廖春连 ;

常迎辉 ;

李斌 ;

刘长龙 ;

田素雷 .

中国专利 :CN110830021A ,2020-02-21

[6]

一种CMOS集成电路抗单粒子辐照加固电路 [P].

毕津顺 ;

海潮和 ;

韩郑生 ;

罗家俊 .

中国专利 :CN102117797A ,2011-07-06

[7]

集成电路单粒子效应检测装置和系统 [P].

陈辉 ;

王晓晗 ;

雷志锋 ;

师谦 ;

肖庆中 .

中国专利 :CN103809109A ,2014-05-21

[8]

集成电路的抗辐照检测系统 [P].

徐睿 ;

桂江华 ;

张沛 ;

邹家轩 ;

蔡洁明 .

中国专利 :CN202929165U ,2013-05-08

[9]

一种纳米集成电路大气中子单粒子翻转率预估方法 [P].

齐超 ;

陈伟 ;

郭晓强 ;

白小燕 .

中国专利 :CN117473928A ,2024-01-30

[10]

集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备 [P].

郭燕萍 ;

卜建辉 ;

倪涛 ;

许婷 ;

李博 ;

王娟娟 ;

王春林 ;

程磊 .

中国专利 :CN117574811A ,2024-02-20

← 1 2 3 4 5 →