集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311560119.X

申请日：

2023-11-21

公开(公告)号：

CN117574811A

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

郭燕萍卜建辉倪涛许婷李博王娟娟王春林程磊

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G06F30/33

IPC分类号：

G06F30/337

代理机构：

北京知迪知识产权代理有限公司 11628

代理人：

王胜利

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	公开	公开
2024-03-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20231121

共 50 条

[1]

集成电路单粒子效应检测装置和系统 [P].

陈辉 ;

王晓晗 ;

雷志锋 ;

师谦 ;

肖庆中 .

中国专利 :CN103809109A ,2014-05-21

[2]

单粒子瞬态脉冲宽度测量电路、集成电路和电子设备 [P].

宿晓慧 ;

罗家俊 ;

韩郑生 ;

刘海南 ;

郝乐 .

中国专利 :CN106569041A ,2017-04-19

[3]

单粒子瞬态脉冲宽度测量电路、集成电路和电子设备 [P].

宿晓慧 ;

罗家俊 ;

韩郑生 ;

刘海南 ;

郝乐 ;

李欣欣 .

中国专利 :CN106569042A ,2017-04-19

[4]

单粒子瞬态脉冲宽度测量电路、集成电路和电子设备 [P].

宿晓慧 ;

罗家俊 ;

韩郑生 ;

刘海南 ;

郝乐 ;

李欣欣 .

中国专利 :CN106569040B ,2017-04-19

[5]

电子设备、集成电路和集成电路设备 [P].

V·泰亚吉 ;

V·拉纳 ;

C·奥里奇奥 ;

L·卡佩奇 .

中国专利 :CN212724729U ,2021-03-16

[6]

抗辐照集成电路单粒子效应截面预估方法 [P].

刘红侠 ;

杜守刚 ;

王树龙 ;

王倩琼 .

中国专利 :CN107345998B ,2017-11-14

[7]

集成电路、电子设备和集成电路制备方法 [P].

陈亮 ;

杜睿 .

中国专利 :CN117832214A ,2024-04-05

[8]

集成电路装置和电子设备 [P].

冈村和浩 ;

大久保刚 ;

中込祐一 ;

濑纳刚史 .

中国专利 :CN111448650A ,2020-07-24

[9]

集成电路装置和电子设备 [P].

冈村和浩 ;

大久保刚 ;

中込祐一 ;

濑纳刚史 .

美国专利 :CN111448650B ,2024-11-12

[10]

一种基于聚类分析的集成电路单粒子效应软错误仿真方法 [P].

彭惠薪 ;

刘春学 ;

王亮 ;

黄昊 ;

李东强 ;

李雨佳 ;

周群博 ;

胡贵才 ;

李哲 ;

钱浩 .

中国专利 :CN115437893A ,2022-12-06

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