集成电路的抗辐照检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220411847.5

申请日：

2012-08-17

公开(公告)号：

CN202929165U

公开(公告)日：

2013-05-08

发明(设计)人：

徐睿桂江华张沛邹家轩蔡洁明

申请人：

申请人地址：

214035 江苏省无锡市惠河路5号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

无锡市大为专利商标事务所 32104

代理人：

殷红梅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-08	授权	授权
2022-09-02	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20120817 授权公告日:20130508

共 50 条

[1]

集成电路温度检测系统 [P].

郑其木 ;

谢征君 .

中国专利 :CN212988603U ,2021-04-16

[2]

一种CMOS集成电路抗单粒子辐照加固电路 [P].

毕津顺 ;

海潮和 ;

韩郑生 ;

罗家俊 .

中国专利 :CN102117797A ,2011-07-06

[3]

一种CMOS集成电路抗辐照加固电路 [P].

毕津顺 ;

海潮和 ;

韩郑生 ;

罗家俊 .

中国专利 :CN102118152B ,2011-07-06

[4]

抗NMOS器件总剂量辐照的集成电路 [P].

刘文 ;

黄如 ;

王思浩 ;

黄德涛 ;

王健 .

中国专利 :CN101719497B ,2010-06-02

[5]

抗NMOS器件总剂量辐照的集成电路 [P].

刘文 ;

黄如 .

中国专利 :CN101667573A ,2010-03-10

[6]

集成电路的测试系统 [P].

连高城 ;

叶剑文 ;

赵静一 .

中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15

[7]

抗辐照集成电路单粒子效应截面预估方法 [P].

刘红侠 ;

杜守刚 ;

王树龙 ;

王倩琼 .

中国专利 :CN107345998B ,2017-11-14

[8]

印刷集成电路板检测系统 [P].

黄本顺 ;

李大鹏 .

中国专利 :CN208334229U ,2019-01-04

[9]

抗NMOS器件总剂量辐照的新型集成电路 [P].

刘文 ;

黄如 .

中国专利 :CN101667578A ,2010-03-10

[10]

集成电路和集成电路系统 [P].

T·奥达斯 ;

A·萨拉菲亚诺斯 ;

F·马里内特 ;

S·谢奈斯 .

中国专利 :CN207182284U ,2018-04-03

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