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光轴位置偏移量的确定方法及装置
被引:0
申请号
:
CN202210603400.6
申请日
:
2022-05-30
公开(公告)号
:
CN114785937A
公开(公告)日
:
2022-07-22
发明(设计)人
:
杨沥
黄恒敏
温跃明
申请人
:
申请人地址
:
310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1187号
IPC主分类号
:
H04N5225
IPC分类号
:
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
赵静
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-22
公开
公开
2022-08-09
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/225 申请日:20220530
共 50 条
[1]
一种位置偏移量的确定方法和装置
[P].
胡峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡峰
;
刘凡
论文数:
0
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0
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0
刘凡
;
王士磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
王士磊
.
中国专利
:CN111090914A
,2020-05-01
[2]
量测设备的位置偏移量的确定方法及相关产品
[P].
张晨泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
张晨泽
;
史晋峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
史晋峰
;
王庆涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
王庆涛
.
中国专利
:CN119374483A
,2025-01-28
[3]
位置偏移量获取装置、检查装置、位置偏移量获取方法及检查方法
[P].
里见一哉
论文数:
0
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0
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0
里见一哉
;
赤木佑司
论文数:
0
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0
赤木佑司
;
井上学
论文数:
0
引用数:
0
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0
井上学
.
中国专利
:CN110199173B
,2019-09-03
[4]
等离子体处理装置、位置偏移量检测装置及位置偏移量校正方法
[P].
高崎晃一
论文数:
0
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0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高崎晃一
;
横川贤悦
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
横川贤悦
;
及川裕
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
及川裕
;
朝仓凉次
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
朝仓凉次
.
日本专利
:CN120642043A
,2025-09-12
[5]
获取工具作业位置偏移量的装置和方法
[P].
梶山贵史
论文数:
0
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0
梶山贵史
;
中川浩
论文数:
0
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0
中川浩
.
中国专利
:CN112140104A
,2020-12-29
[6]
获取工具作业位置偏移量的装置和方法
[P].
梶山贵史
论文数:
0
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0
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0
机构:
发那科株式会社
发那科株式会社
梶山贵史
;
中川浩
论文数:
0
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0
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0
机构:
发那科株式会社
发那科株式会社
中川浩
.
日本专利
:CN112140104B
,2025-01-10
[7]
一种确定掩膜版的位置偏移量的方法、装置及设备
[P].
刘景涛
论文数:
0
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0
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刘景涛
;
王亚
论文数:
0
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0
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0
王亚
;
卓林海
论文数:
0
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0
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0
卓林海
;
任家仪
论文数:
0
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0
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0
任家仪
.
中国专利
:CN113410151A
,2021-09-17
[8]
轨道板安装位置偏移量的检测方法
[P].
张伟
论文数:
0
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0
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0
张伟
;
黄崇富
论文数:
0
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0
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0
黄崇富
;
林雪峰
论文数:
0
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0
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0
林雪峰
;
刘铭
论文数:
0
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0
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刘铭
;
周金国
论文数:
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0
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0
周金国
;
王家胜
论文数:
0
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0
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0
王家胜
.
中国专利
:CN112036200B
,2020-12-04
[9]
移动体的位置偏移量检测系统
[P].
山崎智久
论文数:
0
引用数:
0
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0
山崎智久
.
中国专利
:CN110632609A
,2019-12-31
[10]
平板探测器位置偏移量检测方法及放射治疗装置
[P].
甄永杰
论文数:
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甄永杰
;
姚毅
论文数:
0
引用数:
0
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0
姚毅
.
中国专利
:CN111773561B
,2020-10-16
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