位置偏移量获取装置、检查装置、位置偏移量获取方法及检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780083841.5

申请日：

2017-11-13

公开(公告)号：

CN110199173B

公开(公告)日：

2019-09-03

发明(设计)人：

里见一哉赤木佑司井上学

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01N21956 G06T700 G06T733 H05K300

代理机构：

隆天知识产权代理有限公司 72003

代理人：

宋晓宝;陈林

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-06	授权	授权
2019-09-03	公开	公开
2019-09-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20171113

共 50 条

[1]

获取工具作业位置偏移量的装置和方法 [P].

梶山贵史 ;

中川浩 .

中国专利 :CN112140104A ,2020-12-29

[2]

获取工具作业位置偏移量的装置和方法 [P].

梶山贵史 ;

中川浩 .

日本专利 :CN112140104B ,2025-01-10

[3]

等离子体处理装置、位置偏移量检测装置及位置偏移量校正方法 [P].

高崎晃一 ;

横川贤悦 ;

及川裕 ;

朝仓凉次 .

日本专利 :CN120642043A ,2025-09-12

[4]

光轴位置偏移量的确定方法及装置 [P].

杨沥 ;

黄恒敏 ;

温跃明 .

中国专利 :CN114785937A ,2022-07-22

[5]

移动体的位置偏移量检测系统 [P].

山崎智久 .

中国专利 :CN110632609A ,2019-12-31

[6]

一种位置偏移量的确定方法和装置 [P].

胡峰 ;

刘凡 ;

王士磊 .

中国专利 :CN111090914A ,2020-05-01

[7]

轨道板安装位置偏移量的检测方法 [P].

张伟 ;

黄崇富 ;

林雪峰 ;

刘铭 ;

周金国 ;

王家胜 .

中国专利 :CN112036200B ,2020-12-04

[8]

量测设备的位置偏移量的确定方法及相关产品 [P].

张晨泽 ;

史晋峰 ;

王庆涛 .

中国专利 :CN119374483A ,2025-01-28

[9]

一种位置偏移量的计算测量装置 [P].

汤敏 .

中国专利 :CN209783526U ,2019-12-13

[10]

平板探测器位置偏移量检测方法及放射治疗装置 [P].

甄永杰 ;

姚毅 .

中国专利 :CN111773561B ,2020-10-16

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