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获取工具作业位置偏移量的装置和方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010576271.7
申请日
:
2020-06-22
公开(公告)号
:
CN112140104A
公开(公告)日
:
2020-12-29
发明(设计)人
:
梶山贵史
中川浩
申请人
:
申请人地址
:
日本山梨县
IPC主分类号
:
B25J916
IPC分类号
:
B25J1900
B25J1904
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
金成哲;郑毅
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-29
公开
公开
2022-06-24
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B25J 9/16 申请日:20200622
共 50 条
[1]
获取工具作业位置偏移量的装置和方法
[P].
梶山贵史
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
发那科株式会社
发那科株式会社
梶山贵史
;
中川浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
发那科株式会社
发那科株式会社
中川浩
.
日本专利
:CN112140104B
,2025-01-10
[2]
位置偏移量获取装置、检查装置、位置偏移量获取方法及检查方法
[P].
里见一哉
论文数:
0
引用数:
0
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0
里见一哉
;
赤木佑司
论文数:
0
引用数:
0
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0
赤木佑司
;
井上学
论文数:
0
引用数:
0
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0
井上学
.
中国专利
:CN110199173B
,2019-09-03
[3]
等离子体处理装置、位置偏移量检测装置及位置偏移量校正方法
[P].
高崎晃一
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高崎晃一
;
横川贤悦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
横川贤悦
;
及川裕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
及川裕
;
朝仓凉次
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
朝仓凉次
.
日本专利
:CN120642043A
,2025-09-12
[4]
一种位置偏移量的确定方法和装置
[P].
胡峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡峰
;
刘凡
论文数:
0
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0
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0
刘凡
;
王士磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
王士磊
.
中国专利
:CN111090914A
,2020-05-01
[5]
光轴位置偏移量的确定方法及装置
[P].
杨沥
论文数:
0
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0
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0
杨沥
;
黄恒敏
论文数:
0
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0
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黄恒敏
;
温跃明
论文数:
0
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0
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0
温跃明
.
中国专利
:CN114785937A
,2022-07-22
[6]
轨道板安装位置偏移量的检测方法
[P].
张伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
张伟
;
黄崇富
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄崇富
;
林雪峰
论文数:
0
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0
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林雪峰
;
刘铭
论文数:
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0
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0
刘铭
;
周金国
论文数:
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0
周金国
;
王家胜
论文数:
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0
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0
王家胜
.
中国专利
:CN112036200B
,2020-12-04
[7]
移动体的位置偏移量检测系统
[P].
山崎智久
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山崎智久
.
中国专利
:CN110632609A
,2019-12-31
[8]
一种位置偏移量的计算测量装置
[P].
汤敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤敏
.
中国专利
:CN209783526U
,2019-12-13
[9]
量测设备的位置偏移量的确定方法及相关产品
[P].
张晨泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
张晨泽
;
史晋峰
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
史晋峰
;
王庆涛
论文数:
0
引用数:
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机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
王庆涛
.
中国专利
:CN119374483A
,2025-01-28
[10]
用于校准电动机的转子位置偏移量的方法和系统
[P].
吴隆
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴隆
;
罗伯特·肖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗伯特·肖
.
中国专利
:CN103404009B
,2013-11-20
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