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集成电路芯片测试定位装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201720032173.0
申请日：
2017-01-10
公开(公告)号：
CN206431251U
公开(公告)日：
2017-08-22
发明(设计)人：
张新
颜邦纯
邓红林
韩笑
申请人：
申请人地址：
310000 浙江省杭州市滨江区江淑路799号第一、第二全楼层和第三、四、五层A单元
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
杭州杭诚专利事务所有限公司 33109
代理人：
尉伟敏
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-08-22 | 授权 | 授权 |