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一种集成电路芯片测试定位装置

被引：0
申请号：
CN202220805501.7
申请日：
2022-04-08
公开(公告)号：
CN217238165U
公开(公告)日：
2022-08-19
发明(设计)人：
宋志华
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区航城街道利锦社区华苑商住楼B1511
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
深圳信科专利代理事务所(普通合伙) 44500
代理人：
董会明
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-19 授权 授权
共 50 条
[1]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
俞国金 .
中国专利 :CN218445611U ,2023-02-03
[2]
集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
张新 ;
颜邦纯 ;
邓红林 ;
韩笑 .
中国专利 :CN206431251U ,2017-08-22
[3]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
龙传忠 ;
王开富 .
中国专利 :CN217181135U ,2022-08-12
[4]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
李华锋 .
中国专利 :CN221883835U ,2024-10-22
[5]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
丁鹏 ;
王佳伟 ;
王小东 .
中国专利 :CN221631474U ,2024-08-30
[6]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
刘振华 ;
殷国海 .
中国专利 :CN105047596A ,2015-11-11
[7]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
徐春雷 ;
沈巧林 ;
丁向东 .
中国专利 :CN223139771U ,2025-07-22
[8]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
傅云春 .
中国专利 :CN209182364U ,2019-07-30
[9]
集成电路测试定位装置 [P]. 
王波 .
中国专利 :CN203643477U ,2014-06-11
[10]
一种集成电路芯片测试用定位装置 [P]. 
刘盛华 ;
王世燕 ;
许战越 ;
饶弋然 .
中国专利 :CN221746126U ,2024-09-20
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