一种集成电路测试定位装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821922930.2
申请日
2018-11-21
公开(公告)号
CN209182364U
公开(公告)日
2019-07-30
发明(设计)人
傅云春
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区南江工业园厂房1号401
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238
代理人
王成红
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试定位装置 [P]. 
王波 .
中国专利 :CN203643477U ,2014-06-11
[2]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
程黎明 ;
李明铭 .
中国专利 :CN209280759U ,2019-08-20
[3]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
徐春雷 ;
沈巧林 ;
丁向东 .
中国专利 :CN223139771U ,2025-07-22
[4]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
宋志华 .
中国专利 :CN217238165U ,2022-08-19
[5]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
李华锋 .
中国专利 :CN221883835U ,2024-10-22
[6]
集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
张新 ;
颜邦纯 ;
邓红林 ;
韩笑 .
中国专利 :CN206431251U ,2017-08-22
[7]
一种集成电路测试定位器 [P]. 
邢国忠 ;
冷国勇 .
中国专利 :CN220305388U ,2024-01-05
[8]
一种集成电路测试定位器 [P]. 
胡家法 ;
付春亮 ;
龚林华 ;
周军 .
中国专利 :CN220872525U ,2024-04-30
[9]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
丁鹏 ;
王佳伟 ;
王小东 .
中国专利 :CN221631474U ,2024-08-30
[10]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
龙传忠 ;
王开富 .
中国专利 :CN217181135U ,2022-08-12