一种集成电路测试定位装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201821840260.X
申请日
2018-11-09
公开(公告)号
CN209280759U
公开(公告)日
2019-08-20
发明(设计)人
程黎明 李明铭
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道新围社区沙河西路鼎新大厦东1201
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试定位装置 [P]. 
王波 .
中国专利 :CN203643477U ,2014-06-11
[2]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
傅云春 .
中国专利 :CN209182364U ,2019-07-30
[3]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
李华锋 .
中国专利 :CN221883835U ,2024-10-22
[4]
一种集成电路测试定位装置 [P]. 
徐春雷 ;
沈巧林 ;
丁向东 .
中国专利 :CN223139771U ,2025-07-22
[5]
集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
张新 ;
颜邦纯 ;
邓红林 ;
韩笑 .
中国专利 :CN206431251U ,2017-08-22
[6]
一种集成电路测试定位器 [P]. 
邢国忠 ;
冷国勇 .
中国专利 :CN220305388U ,2024-01-05
[7]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
丁鹏 ;
王佳伟 ;
王小东 .
中国专利 :CN221631474U ,2024-08-30
[8]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
宋志华 .
中国专利 :CN217238165U ,2022-08-19
[9]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
龙传忠 ;
王开富 .
中国专利 :CN217181135U ,2022-08-12
[10]
一种集成电路芯片测试定位装置 [P]. 
俞国金 .
中国专利 :CN218445611U ,2023-02-03