干涉仪和采用干涉仪的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN99124887.2

申请日：

1999-11-17

公开(公告)号：

CN1206511C

公开(公告)日：

2000-05-24

发明(设计)人：

鸣海达也

申请人：

申请人地址：

日本川崎市

IPC主分类号：

G01B902

IPC分类号：

G01B1102

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

李家麟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2001-09-26	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-06-15	授权	授权
2000-05-24	公开	公开
2014-01-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101560122344 IPC(主分类):G01B 9/02 专利号:ZL991248872 申请日:19991117 授权公告日:20050615 终止日期:20121117

共 50 条

[1]

干涉仪和用于运行干涉仪的方法 [P].

A.默茨 ;

M.胡斯尼克 ;

M.施密德 ;

B.施泰因 ;

C.舍林 .

中国专利 :CN109564344A ,2019-04-02

[2]

干涉仪和用于制造干涉仪的方法 [P].

R·诺特梅耶 ;

C·胡博尔 ;

R·罗德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 .

德国专利 :CN112313488B ,2024-02-02

[3]

干涉仪和用于制造干涉仪的方法 [P].

R·诺特梅耶 ;

C·胡博尔 ;

R·罗德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 .

中国专利 :CN112313488A ,2021-02-02

[4]

干涉仪设备以及干涉仪设备中的测量方法 [P].

植木伸明 .

中国专利 :CN1243951C ,2004-08-04

[5]

激光干涉仪和使用该激光干涉仪的测量装置 [P].

中薮俊博 ;

田村阳一 ;

谷内秀夫 ;

清水昭裕 .

中国专利 :CN101918788A ,2010-12-15

[6]

激光干涉仪和激光干涉仪的光轴调整方法 [P].

北川润 ;

林畅仁 ;

山田耕平 .

日本专利 :CN118999344A ,2024-11-22

[7]

干涉仪元件、光谱仪和用于运行干涉仪的方法 [P].

R·诺特迈耶 ;

B·斯坦 ;

C·胡贝尔 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 ;

R·罗德尔 .

中国专利 :CN112840186A ,2021-05-25

[8]

干涉仪元件、光谱仪和用于运行干涉仪的方法 [P].

R·诺特迈耶 ;

B·斯坦 ;

C·胡贝尔 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 ;

R·罗德尔 .

德国专利 :CN112840186B ,2024-06-07

[9]

自参考干涉仪和双重自参考干涉仪装置 [P].

D·C·卡皮里 .

中国专利 :CN113939770A ,2022-01-14

[10]

红外光谱干涉仪和采用该干涉仪的红外光谱仪 [P].

曾立波 ;

张新民 ;

吴琼水 .

中国专利 :CN102359818B ,2012-02-22

← 1 2 3 4 5 →