一种测试探针组件

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420276528.7

申请日：

2014-05-27

公开(公告)号：

CN204330832U

公开(公告)日：

2015-05-13

发明(设计)人：

聂林红

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华新区观澜上坑社区观益路5号多彩科技厂区1栋厂房1-4楼

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

何青瓦

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-05	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101739587225 IPC(主分类):G01R 1/067 专利号:ZL2014202765287 登记生效日:20160907 变更事项:专利权人变更前权利人:深圳市策维科技有限公司变更后权利人:深圳市艾励美特科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市龙华新区观澜上坑社区观益路5号多彩科技厂区1栋厂房1-4楼变更后权利人:518110 广东省深圳市龙华新区观澜街道樟坑径下围工业区一路14号艾励美特工业园
2015-05-13	授权	授权
2022-05-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20140527 授权公告日:20150513 终止日期:20210527

共 50 条

[1]

一种测试探针组件 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN204188665U ,2015-03-04

[2]

测试探针、测试探针组件及测试平台 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03

[3]

一种测试探针组件 [P].

何西山 ;

何西江 .

中国专利 :CN220983362U ,2024-05-17

[4]

一种测试探针及探针组件 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN217278539U ,2022-08-23

[5]

一种测试探针 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN204101604U ,2015-01-14

[6]

芯片测试探针组件 [P].

殷国海 ;

金维军 .

中国专利 :CN223284267U ,2025-08-29

[7]

电池测试探针组件 [P].

蒋文彬 ;

文志雄 ;

王龙喜 ;

李金林 .

中国专利 :CN207675802U ,2018-07-31

[8]

一种EL测试探针组件 [P].

张志辉 .

中国专利 :CN222915997U ,2025-05-27

[9]

一种EL测试探针组件 [P].

张宏彬 .

中国专利 :CN204177836U ,2015-02-25

[10]

一种测试探针组件 [P].

纳赛尔·巴拉比 ;

何志华 ;

李宪林 .

美国专利 :CN114791554B ,2025-03-21

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