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一种测试探针组件

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202210058547.1
申请日：
2022-01-19
公开(公告)号：
CN114791554B
公开(公告)日：
2025-03-21
发明(设计)人：
纳赛尔·巴拉比 何志华 李宪林
申请人：
埃萨伊公司
申请人地址：
美国加利福尼亚州
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/18
代理机构：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人：
张敏
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-21 授权 授权
共 50 条
[1]
测试探针、测试探针组件及测试平台 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03
[2]
一种测试探针组件 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN204188665U ,2015-03-04
[3]
一种测试探针组件 [P]. 
何西山 ;
何西江 .
中国专利 :CN220983362U ,2024-05-17
[4]
一种测试探针组件 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN204330832U ,2015-05-13
[5]
一种测试探针及探针组件 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN217278539U ,2022-08-23
[6]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30
[7]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308657336S ,2024-05-28
[8]
测试探针及探针座 [P]. 
陈家进 .
中国专利 :CN101846695A ,2010-09-29
[9]
测试探针及探针座 [P]. 
陈家进 .
中国专利 :CN101813711B ,2010-08-25
[10]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN308981361S ,2024-12-03
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