一种测试探针及探针组件

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申请号
CN202220138748.8
申请日
2022-01-19
公开(公告)号
CN217278539U
公开(公告)日
2022-08-23
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
410199 湖南省长沙市中国(湖南)自由贸易试验区长沙片区三一路1号三一工业城众创楼2楼201室
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473
代理人
丁晴晴
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试探针、测试探针组件及测试平台 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03
[2]
一种高电流测试探针及探针组件 [P]. 
刘丽贞 .
中国专利 :CN210604724U ,2020-05-22
[3]
一种测试探针组件 [P]. 
聂林红 .
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[4]
一种测试探针组件 [P]. 
何西山 ;
何西江 .
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[5]
一种测试探针组件 [P]. 
聂林红 .
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[6]
芯片测试探针组件 [P]. 
殷国海 ;
金维军 .
中国专利 :CN223284267U ,2025-08-29
[7]
电池测试探针组件 [P]. 
蒋文彬 ;
文志雄 ;
王龙喜 ;
李金林 .
中国专利 :CN207675802U ,2018-07-31
[8]
一种测试探针及探针座 [P]. 
周天毫 ;
余新文 .
中国专利 :CN223400958U ,2025-09-30
[9]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30
[10]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19