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一种测试探针及探针组件
被引:0
申请号
:
CN202220138748.8
申请日
:
2022-01-19
公开(公告)号
:
CN217278539U
公开(公告)日
:
2022-08-23
发明(设计)人
:
不公告发明人
申请人
:
申请人地址
:
410199 湖南省长沙市中国(湖南)自由贸易试验区长沙片区三一路1号三一工业城众创楼2楼201室
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473
代理人
:
丁晴晴
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-23
授权
授权
共 50 条
[1]
测试探针、测试探针组件及测试平台
[P].
聂林红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
聂林红
.
中国专利
:CN105308464A
,2016-02-03
[2]
一种高电流测试探针及探针组件
[P].
刘丽贞
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘丽贞
.
中国专利
:CN210604724U
,2020-05-22
[3]
一种测试探针组件
[P].
聂林红
论文数:
0
引用数:
0
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0
聂林红
.
中国专利
:CN204188665U
,2015-03-04
[4]
一种测试探针组件
[P].
何西山
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
何西山
;
何西江
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
深圳市富铭达精密陶瓷有限公司
何西江
.
中国专利
:CN220983362U
,2024-05-17
[5]
一种测试探针组件
[P].
聂林红
论文数:
0
引用数:
0
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0
聂林红
.
中国专利
:CN204330832U
,2015-05-13
[6]
芯片测试探针组件
[P].
殷国海
论文数:
0
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0
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机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
殷国海
;
金维军
论文数:
0
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0
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0
机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
金维军
.
中国专利
:CN223284267U
,2025-08-29
[7]
电池测试探针组件
[P].
蒋文彬
论文数:
0
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蒋文彬
;
文志雄
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文志雄
;
王龙喜
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王龙喜
;
李金林
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0
李金林
.
中国专利
:CN207675802U
,2018-07-31
[8]
一种测试探针及探针座
[P].
周天毫
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机构:
苏州微米光电子科技有限公司
苏州微米光电子科技有限公司
周天毫
;
余新文
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机构:
苏州微米光电子科技有限公司
苏州微米光电子科技有限公司
余新文
.
中国专利
:CN223400958U
,2025-09-30
[9]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置
[P].
朱小刚
论文数:
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引用数:
0
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0
朱小刚
.
中国专利
:CN212845744U
,2021-03-30
[10]
测试探针
[P].
蔡兴杰
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机构:
合肥晶岚半导体有限公司
合肥晶岚半导体有限公司
蔡兴杰
.
中国专利
:CN221378066U
,2024-07-19
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