一种测试探针及探针座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422686116.7

申请日：

2024-11-05

公开(公告)号：

CN223400958U

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

周天毫余新文

申请人：

苏州微米光电子科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中区光福镇福利路15号

IPC主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

上海利迅知识产权代理有限公司 31462

代理人：

刘馥宁

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	授权	授权

共 50 条

[1]

测试探针及探针座 [P].

陈家进 .

中国专利 :CN101813711B ,2010-08-25

[2]

测试探针及探针座 [P].

陈家进 .

中国专利 :CN101846695A ,2010-09-29

[3]

芯片测试探针座 [P].

李金龙 ;

吴后强 .

中国专利 :CN223166867U ,2025-07-29

[4]

测试探针 [P].

D·马克 ;

Z·G·唐 ;

K·K·刘 ;

T·H·J·唐 ;

S·M·J·吴 ;

S·K·重 ;

C·W·勇 ;

W·S·勇 ;

E·蔡 .

中国专利 :CN208432644U ,2019-01-25

[5]

一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统 [P].

聂远 ;

马金刚 ;

张明 ;

高云峰 .

中国专利 :CN208421014U ,2019-01-22

[6]

一种测试探针及探针组件 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN217278539U ,2022-08-23

[7]

弹片测试探针及芯片测试座 [P].

钱晓晨 ;

蔡泓羿 ;

朱杰 .

中国专利 :CN221860533U ,2024-10-18

[8]

射频测试座及测试探针 [P].

郭钜添 .

中国专利 :CN106662612B ,2017-05-10

[9]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19

[10]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

蔡明峻 ;

李尧 .

中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20

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